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平移式測(cè)試分選機(jī)
拾取放置分選機(jī)可以穩(wěn)定處理各類IC，滿足大規(guī)模量產(chǎn)測(cè)試對(duì)精度和產(chǎn)能的需求。
EXCEED-6000系列分選機(jī)
用于Functional Test 的IC測(cè)試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性。支持IC芯片在不同環(huán)境（常溫、高溫），進(jìn)行8site 并行測(cè)試分選。
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EXCEED-8000系列分選機(jī)
用于Functional Test 的IC測(cè)試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性。支持IC芯片在不同的溫度（常溫、高溫、低溫）環(huán)境下，進(jìn)行16site 并行測(cè)試分選?？蓪?shí)現(xiàn)高精度的溫度控制。
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EXCEED-9000系列分選機(jī)
用于Function Test的料管式包裝的IC測(cè)試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性等特征。最多支持32工位同測(cè)、支持常溫、高溫測(cè)試要求。
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EXCEED-9800系列分選機(jī)
用于Function Test的IC測(cè)試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性、高精度溫度控制等特征。最多支持16工位同測(cè)，支持常溫、高溫、低溫測(cè)試要求。
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NEOCEED-8000系列分選機(jī)
用于Function Test的料管式包裝的IC測(cè)試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性等特征。最多支持16工位同測(cè)、支持常溫、高溫測(cè)試要求。
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NEOCEED-9800系列分選機(jī)
用于Function Test的料管式包裝的IC測(cè)試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性等特征。最多支持16工位同測(cè)、支持低溫、常溫、高溫測(cè)試要求。
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系統(tǒng)級(jí)測(cè)試分選機(jī)
在模擬真實(shí)應(yīng)用場(chǎng)景下對(duì)芯片進(jìn)行功能與性能測(cè)試，檢驗(yàn)產(chǎn)品在終端設(shè)備中的可靠性和兼容性。
SUMMIT-3100系列分選機(jī)
用于System Level Test的IC測(cè)試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性等特征。可支持6/12/16工位同測(cè)，支持常溫、高溫、低溫測(cè)試要求。
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工程測(cè)試分選機(jī)
為芯片研發(fā)和原型驗(yàn)證階段提供靈活的測(cè)試解決方案，加速產(chǎn)品上市進(jìn)程。
COLLIE-300系列分選機(jī)
用于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境的IC測(cè)試分類，具備體積小，集成化高等特征。兼容ATE測(cè)試機(jī)與SLT測(cè)試板設(shè)計(jì)，最多支持2工位同測(cè)，支持常溫、高溫、低溫測(cè)試要求。
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RIGEL系列
用于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境的IC測(cè)試分類，具備體積小，集成化高等特征。兼容ATE測(cè)試機(jī)與SLT測(cè)試板設(shè)計(jì)，支持常高溫，可實(shí)現(xiàn)高精度的溫度控制。
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