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平移式測試分選機(jī)

EXCEED-6000系列分選機(jī)

用于Functional Test 的IC測試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性。支持IC芯片在不同環(huán)境（常溫、高溫），進(jìn)行8site 并行測試分選。

產(chǎn)品特點

用于Functional Test 的IC測試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性。
支持IC芯片在不同環(huán)境（常溫、高溫），進(jìn)行8site 并行測試分選。

Input shuttle、自動出盤均配備光纖式浮動檢查，可更精準(zhǔn)的監(jiān)測料的狀態(tài)，防止疊料、翹料等情況造成料的損傷；

characteristic

上下料臂使用磁柵尺定位，可支持最小2x2mm的產(chǎn)品測試，跑小料也能穩(wěn)定、高良率運行；

characteristic

整機(jī)尺寸小巧緊湊，功能齊全，可滿足小空間布置；

characteristic

支持針對不同客戶的功能定制開發(fā)。

characteristic

技術(shù)參數(shù)

Model	EXCEED6040	EXCEED6080	EXCEED6040H	EXCEED6080H
Test Layout	1/2/4 site	1/2/4/8 site	1/2/4 site	1/2/4/8 site
Temperature type	Ambient temp		Dual temp
Pick-up head	2x2 module
Contact Force	120kgf (Option: 240kgf)
Test Opening	210 mm x 134 mm
Package Type	QFN,QFP,BGA,LGA,PLCC,PGA, CSP,TSOP etc.
Tray Type	JEDEC
Temperature Range	+50℃ to +100℃ ±2℃ ； +100℃ to +130℃ ±3℃
Tester Interface	GPIB ,TTL, RS232 ,Network